シンクロトロン放射X線によるアモルファスSi/Ge0.2Si0.8 (111) の界面超構造の観測

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概要

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著者

• 秋本 晃一

  日電・基礎研

• 水木 純一郎

  日電・基礎研

• 辰巳 徹

  日電・基礎研

• 相崎 尚昭

  日電・基礎研

• 松井 純爾

  日電・基礎研

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