超短TEシーケンスの再構成時のエコーシフト補正法
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概要
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超短TEパルスシーケンスはK空間を放射状にサンプリングするラディアルサンプリングとハーフエコー計測を基盤とする．ラディアルサンプリングでのハーフエコー計測は，ハードウェア由来の誤差に影響されやすく，傾斜磁場パルスの時間的なずれやパルス形状の歪みによりエコーピークがシフトし（以下，エコーシフト），画質が劣化する．画質劣化を抑制するため，10秒程度のプリスキャンで撮像条件に応じてエコーシフトを検出し信号を補正するアルゴリズムを開発した．この結果，ハードウェア由来の誤差が生じやすい，オブリークやオフセンター位置での撮像で安定に画像を取得できた．これにより，撮像パラメータの自由度が高いロバストな超短TEパルスシーケンスを実現した．