透過型電子顕微鏡によるシュードタキライトに含まれるアモルファス物質の起源の識別

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概要

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福島県畑川破砕帯の溶融起源シュードタキライトの基質において透過型電子顕微鏡（TEM）観察を行った結果，明視野像で均質なコントラストを示す不定形なアモルファス物質が確認された．一方，長野県飯田松川断層の粉砕起源シュードタキライトの基質にはナノメートルサイズのアモルファス物質が認められ，そのTEM組織は畑川破砕帯のものとは異なっている．さらに，それぞれのシュードタキライトの母岩を用いた溶融実験と低速剪断実験による粉砕によって生成したアモルファス物質でも同様にTEM組織の違いが認められた．以上のことはシュードタキライトに存在するアモルファス物質の起源がTEM組織によって識別可能であることを示している．

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