4軸X線回折測定による超伝導薄膜配向性の3D表示プログラムの作成
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概要
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本研究室では、超伝導薄膜の作製を行っている。作製された超伝導薄膜の結晶構造は、4軸X線回折装置により評価された。X線回折測定の結果は、付属のソフトウェアにより表示可能であるが、3次元(3D)的に表示させることが出来ないため、視覚的に分かりにくいという問題があった。そこで我々は、LabVIEWを用いて、X線回折測定結果を3D表示させるプログラムを作成した。LabVIEWは、世界中の理工系分野で用いられている計測・制御用ソフトウェアであり、視覚的にプログラムを構築することが出来るため、短期間で実用的なソフトウェアの開発が可能である。本論文では、X線回折測定結果を視覚的に分かりやすく3D表示させるプログラム以外に2D表示で結晶構造を解析するプログラムも作成したので、合わせて報告する。
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- 2011-03-31
宮城教育大学情報処理センター | 論文
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