銀蒸着薄膜の密度測定
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概要
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In this report, a method for measuring the apparent density of evaporated thin Ag films is described. This measurement is based on the use of a digital thickness monitor and a multiple beam interferometer. The measured values by this method are compared with the values obtained by the weighing method. An empirical formula which expresses the relation between the thickness and the apparent density of evaporated thin films is proposed.
- 津山工業高等専門学校の論文
- 1977-03-15
津山工業高等専門学校 | 論文
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