3P300 FIB(Focused Ion Beam:集束イオンビーム加工)-SEM(Scanning Electron Microscope:走査電子顕微鏡)による細胞まるごと三次元構造解析法の開発(27.バイオイメージング,ポスター,日本生物物理学会年会第51回(2013年度))

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