差分範囲を拡張した電子部品基板の良否判定の改善
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概要
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本稿では、短い処理過程かつ低価格な電子基板の挿入もれを検査するシステムを考える。基板の認識は、全ての部品がついた良品基板と挿入もれのある検査基板の差分をとることで行う。しかし、比較する2枚の画像は座標合わせなどの前処理を行っても、位置によって傾向の異なるピクセル単位でのずれが生じ、対応点が一致しないため通常差分で認識が困難である。このため、画像を適切な範囲で区切り、画素のずれの傾向を区間ごとに設定して差分処理を行う手法を提案した。ずれの傾向は対応点の近傍画素を調査し、ファジィ理論を応用して柔軟に設定する。実験結果は、通常の差分結果と比較して、区間ごとにずれの傾向を設定した差分結果の有効性を確認することができた。
- 2012-03-06
著者
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