SMFにおけるひずみと温度が識別できるハイブリッド分布測定システムの開発
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概要
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本論文ては,フリルアン散乱とレイリー散乱を同時に測定するハイブリッド計測システムの商用化開発を報告する.本システムは1本のSM(シンクルモート)ファイバでひずみと温度を分離することで従来技術の課題を抜本的に解決するものであり,約3年間の様々な現場試験を経てその有効性を検証することができた.本論文では,ハイブリッドシステムが必要とする光ファイバの特性係数の測定方法や信号処理技術についても紹介する.この技術を用いてすでに2cm空間分解能や,シンクルエント測定などの商用機のラインナップが実現しており,様々な応用か期待されるSM光ファイバでのひずみ・温度分離測定は著者の知る限り世界初である.
- 一般社団法人電子情報通信学会の論文
- 2013-01-17
著者
-
岸田 欣増
ニューブレクス(株)
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李 哲賢
ニューブレクス(株)
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西口 憲一
大阪大学フロンティア研究センター
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山内 良昭
ニューブレクス株式会社
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山内 良昭
ニューブレクス(株)
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グジク アーター
ニューブレクス(株)
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西口 憲一
大阪大学
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グジク アーター
ニューブレクス株式会社
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