26pXP-16 CNT薄膜の熱電物性へのチューブ接触効果 : NEGF+DFTシミュレーション(26pXP ナノチューブ(構造・電子物性),領域7(分子性固体・有機導体))

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概要

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• 一般社団法人日本物理学会の論文
• 2013-03-26

著者

• 臼井 信志

  サイバネットシステム株式会社

• 山本 貴博

  東理大工

• 臼井 信志

  Quantum Wise Japan

• 加藤 哲平

  東理大工

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