プリント基板絶縁劣化のスクリーニング技術(半導体と電子デバイスの信頼性,信頼性一般)
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概要
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プリント基板では高温高湿試験等での絶縁劣化に対する信頼性試験が実施される。この信頼性試験には長時間を要するという課題があり、抜き取り試験であることから、精度の向上も求められている。ここでは、プリント基板からのイオン、金属の溶出量を評価することにより、信頼性評価に対する高速で高精度なスクリーニング技術を開発した。
- 2012-11-08
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