C-2-85 同軸Sパラメータ法誘電率測定におけるVNA測定不確かさの影響の考察(C-2.マイクロ波C(マイクロ波・ミリ波応用装置),一般セッション)
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概要
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- 2012-08-28
著者
-
堀部 雅弘
産業技術総合研究所
-
岸川 諒子
(独)産業技術総合研究所計量標準総合センター
-
飴谷 充隆
産業技術総合研究所
-
岸川 諒子
産業技術総合研究所
-
岸川 諒子
産業技術総合研究所計測標準研究部門
-
加藤 悠斗
産業技術総合研究所計測標準研究部門
-
飴谷 充隆
産業技術総合研究所計測標準研究部門
-
堀部 雅弘
産業技術総合研究所計測標準研究部門
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