MZ型光変調器を用いたPD周波数特性校正法 : 従来技術との比較および誤差解析(マイクロ波フォトニクス技術,一般)
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概要
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PDのような光電変換デバイスの周波数特性を校正する方法として、周波数応答の光電変換標準をMZ型光強度変調器で実現する方法を提案する.従来は、米国標準技術研究所(NIST)が光電変換の周波数応答に関する標準を定め、それにトレーサブルなデバイスを用いた測定器が市販されており、多くのユーザはこれを利用していた。しかし、校正間隔が長くなるためか、絶対不確かさが大きい。筆者らは、NISTが採用しているヘテロダイン法を高消光比光変調器を活用することで実現し、簡便で高確度なPD周波数特性の測定が可能になることを提案している。本稿では、光およびRFのパワー測定誤差と光源の不完全性による誤差の関係を明らかにし、光源として必要な性能を定量的に明らかにした。また、従来技術としての光コンポーネントアナライザ(LCA)の測定結果と比較し、インピーダンス整合が誤差に与える影響が大きいことが明らかとなった。
- 2011-07-14
著者
-
川西 哲也
(独)情報通信研究機構
-
稲垣 惠三
(独)情報通信研究機構新世代ネットワーク研究センター
-
稲垣 惠三
(独)情報通信研究機構 光ネットワーク研究所
-
マンコン ユークリット
(独)情報通信研究機構 光ネットワーク研究所
-
稲垣 惠三
(独)情報通信研究機構
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