簡易モデルにより電源変動を考慮した複数基板のEMI解析(マイクロ波,EMC,一般)
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概要
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AV機器の開発において,映像の高画質化・デジタルネットワーク化の進展による使用信号周波数の高速化が進みEMC対策の難易度が向上している.この為,LSIの電気特性を加味した精度の高いEMI解析技術による試作完成前の事前対策が待ち望まれている.LSIの電気特性を加味した解析は,LECCSモデルなどを利用する事が提案されている.しかしLECCSモデルのでは、モデル作成に専用の測定治具を用いる必要がありL/T,コスト面で問題がある.本報告では,LSI内部コア回路の電気特性を簡易モデル化し,その妥当性を確認した.また,簡易モデルを用いて電磁界解析と回路解析を連成して解くことで,LSIの実動作による電源変動に起因するEMI解析技術を開発し,本解析手法の有効性を確認した.
- 2011-05-19
著者
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