1025 Tersoffポテンシャルによるシリコンの局所格子不安定性解析(OS10. 電子・原子・マルチシミュレーションに基づく材料特性評価,OS11. 材料の組織・強度に関するマルチスケールアナリシス 合同ポスターセッション,オーガナイズドセッション講演)

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概要

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• 2010-09-23

著者

• 大石 直樹

  神戸大・院

• 大石 直樹

  神戸大院:シスメックス(株)

• 屋代 如月

  神大院工

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