ばらつき・信頼性シミュレーション技術の最新動向 : ISPAD2010併設ワークショップ1のレビュー(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)

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概要

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• 2010年9月、イタリアボローニャで開催されたSISPAD2010において併設されたワークショップ"Simulation and Characterization of Statistical CMOS Variability and Reliability"から、報告者が行った不純物ゆらぎシミュレーションの話題を中心に、ばらつき・信頼性シミュレーション技術の最新動向の概略を紹介する。

• 2010-11-04

著者

• 鳥山 周一

  株式会社東芝研究開発センターlsi基盤技術ラボラトリー

• 鳥山 周一

  株式会社東芝 研究開発センターlsi基盤技術ラボラトリー

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