Escape Length and Escape Probability of Negative-Electron-Affinity GaP:Cs:O by Photoemission Measurement

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概要

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• 静岡大学の論文

著者

• Nihashi Tokuaki

  Hamamatsu Tv Co, Ltd

• Akai Yoshiro

  Hamamatsu Tv Co, Ltd

• Akai Yoshiro

  Hamamatsu Tv Co Ltd

• Nihashi Tokuaki

  Hamamatsu Tv Co Ltd

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