ダイヤルゲージを用いたヤング率の測定
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
金属などの試料棒のたわみを光テコを用いて測定する従来のヤソグ率の測定方法に換えて,ダイヤルゲージを用いる方法が提案された。これは実験が簡単で精度も良く,その上安価である。また授業中のデモンストレーション実験としても適している。
- 日本物理教育学会の論文
- 1993-06-01
著者
関連論文
- 30p-YR-4 H_2O, NH_3 気体分子による陽電子のポジトロニュウム形成断面積
- 2p-L-8 陽電子の弾性散乱断面積の直接測定 III : Ne, Ar
- 2p-YC-10 タングステン・モダレータの陽電子放出率とSTM観察
- 30p-YR-3 前方散乱強度を用いた気体による陽電子散乱の微分断面積の評価
- 29a-F-11 Heによるe^+の弾性散乱の直接測定II
- 15a-DB-10 Heによるe^+の弾性散乱の直接測定
- ダイヤルゲージを用いたヤング率の測定
- 29p-L-7 N_2、H_2、He、CO、O_2によるe^+およびe^-の全断面積(原子・分子)
- 陽電子と分子の散乱過程における共鳴状態の可能性を探る
- 28p-E-4 e^+-原子分子衝突
- 放電プラズマに関する電子衝突断面積測定実験