5-2 顕微鏡下における1000Vイオンマイグレーションの観察(セッション5「試験,故障解析,部品,要素技術の信頼性,ハードウェア面」)
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概要
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電気絶縁抵抗の変化をモニターしながら、同時に光学顕微鏡下でイオンマイグレーションおよび放電の観察が可能な小型の恒温槽を作製し、恒温恒湿雰囲気中において高電圧1000Vを印加しながら連連観察を行った。電圧印加後ただちに放電の生じる条件が存在し、電極間のイオン性汚染物質の濃度が高い程、より大きい電極間距離で放電が生じた。上記放電の生じない領域においてマイグレーション観察を行った。電極間基材表面の微細な凹凸形状を反映した、特徴的なデンドライトの進展が見られた。
- 2009-11-20