P-7 チャープ超音波を用いた表面直下欠陥の検出(ポスター・セッション)

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概要

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• 超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム運営委員会の論文
• 1984-12-04

著者

• 実森 彰郎

  三菱電機(株)

• 稲荷 隆彦

  三菱電機(株)応用機器研究所

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