CAD Navigationを用いた故障位置の特定(<特集>LSIのテスト・評価技術)

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概要

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• LSIの高集積化/大規模化に伴い,観察箇所は広範になり,目視による故障位置特定の難易度は増大しています.また,LSIの微細化に伴い,故障原因が多様化し,益々故障位置特定の難易度が上がっています.本稿ではCADデータを併用するCAD Navigationの概要をご紹介し,故障位置特定における高信頼性やTAT短縮等のメリットについて述べます.

• 2009-10-01

著者

• 中島 義弘

  株式会社アストロン

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