高温超伝導薄膜内の高精度遮へい電流密度解析 : 誘導法への応用(電磁界理論)

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概要

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高温超伝導薄膜中を流れる遮へい電流密度を解析する高精度数値シミュレーションコードを開発した.時間と空間に関して離散化すると,遮へい電流密度の初期値・境界値問題は各時間ステップにおける連立非線形方程式に帰着するが,非線形方程式の係数の一部に特異二重積分が現れる.数値コード内では,特異二重積分をGauss-Legendre公式とDE公式の両方を適用して高精度に求めている.本研究では,同コードを用いて,臨界電流密度の非接触測定法である誘導法を数値的に再現した.その結果,誘導法が高い臨界電流密度の測定に適していることが判明した.
2008-04-01

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