29pPSB-65 極低温走査プローブ顕微鏡を用いた超伝導体表面におけるナノスケール摩擦の測定(29pPSB 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 2009-03-03

著者

• 白濱 圭也

  慶應大

• 柴山 義行

  慶應大理工

• 白濱 圭也

  慶應大理工

• 齋藤 広大

  慶應大理工

• 柴山 義行

  慶応大理工

• 林 賢一

  慶應大理工

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