24pYE-3 電子顕微鏡・電子回折でみる分域像(強誘電体分域の測定法の新展開と新しい分域像,シンポジウム,領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 2008-02-29

著者

• 田中 通義

  科学技術振興機構crest

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