30pXD-6 Aharonov-Casher効果精密測定のためのJamin型多層膜冷中性子干渉計の開発(30pXD X線・粒子線(中性子・粒子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))

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