コンシューマエレクトロニクス向け混載DRAM技術(メモリ技術(DRAM,SRAM,フラッシュ,新規メモリー))
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概要
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コンシューマエレクトロニクス向け混載DRAMデバイス技術について報告する。我々は150nm世代より低消費電力かつ高速アクセス性能を持つ混載DRAMを実現するために「Full Metal DRAM」技術と呼ぶセル技術を導入した。本技術の特徴はセルの寄生抵抗を低減できることと、標準CMOSロジック性能との完全互換生が得られることである。90nm世代からは、High-k容量絶縁膜(ZrO2)技術を導入して、セルサイズの縮小を図り、さらに55nm世代以降、High-kゲート絶縁膜(HfSiON)技術を導入することによりデバイススケーリングと性能向上を行った。
- 2008-04-10
著者
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伊藤 雄一
NEC エレクトロニクス株式会社 先端デバイス開発部
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佐甲 隆
NEC エレクトロニクス株式会社 先端デバイス開発部
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白井 浩樹
NEC エレクトロニクス株式会社 先端デバイス開発部
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石川 亮佑
NEC エレクトロニクス株式会社 先端デバイス開発部
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北村 卓也
NEC エレクトロニクス株式会社 先端デバイス開発部
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竹内 麻美
NEC エレクトロニクス株式会社 先端デバイス開発部
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井上 顕
NEC エレクトロニクス株式会社 先端デバイス開発部
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川崎 澄
NEC エレクトロニクス株式会社 先端デバイス開発部
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勝木 信幸
NEC エレクトロニクス株式会社 先端デバイス開発部
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星崎 博之
NEC エレクトロニクス株式会社 先端デバイス開発部
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桑原 愼一
NEC エレクトロニクス株式会社 先端デバイス開発部
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夏目 秀隆
NEC エレクトロニクス株式会社 先端デバイス開発部
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坂尾 眞人
NEC エレクトロニクス株式会社 先端デバイス開発部
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谷川 高穂
NEC エレクトロニクス株式会社 先端デバイス開発部