2E08 ナノテクノロジー関連特許出願のマッピング、引用関係を用いた技術群の同定と知識の流れの計測(メトリクス,一般講演,第22回年次学術大会)

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概要

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• 研究・技術計画学会の論文
• 2007-10-27

著者

• 伊神 正貫

  文科省・科学技術政策研

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