C-12-2 SoCメモリI/F向け外付け試験回路の開発(C-12.集積回路A(設計・テスト・実装技術),一般講演)

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概要

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• 社団法人電子情報通信学会の論文
• 2007-03-07

著者

• 今川 健吾

  株式会社日立製作所生産技術研究所

• 幕内 雅己

  (株)日立製作所生産技術研究所回路実装設計研究室

• 幕内 雅巳

  (株)日立製作所生産技術研究所

• 幕内 雅己

  株式会社日立製作所生産技術研究所

• 析橋 律郎

  (株)日立製作所生産技術研究所

• 青木 英之

  (株)ルネサステクノロジ

• 折橋 律郎

  (株)日立製作所生産技術研究所

• 今川 健吾

  (株)日立製作所生産技術研究所

• 江口 耕一郎

  (株)ルネサス那珂セミコンダクタ

• 亀山 禎史

  (株)ルネサステクノロジ

• 池田 義晴

  (株)ルネサステクノロジ

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