電子・重イオン衝撃によるC_<60>分解・電離断面積(原子核とマイクロララスターの類似性と異質性,研究会報告)
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概要
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高エネルギー電子・重イオン衝突によって誘起されたC_<60>クラスターの電離・分解片イオンの入射粒子依存(Z_1 dependence)およびエネルギー依存の測定を行った.入射粒子は、電子(≤5keV)、重イオン(H^+(0.2-2.5MeV)、C^5+(15.6MeV)、O^<6+,7+>(20.4MeV)、Si^<2+>(0.8-4.0MeV))を用いた。H^+入射ではC^<1+,2+>_<60>の電離断面積を測定し、一次摂動によるplasmon励起断面積の理論計算と比較した。重イオン衝撃ではC^<1+>_n(n≤12)分解片イオンの強度分布を調べた。また、C^<5+>、O^<6+,7+>入射では荷電変換衝突によるC_<60>分解過程における分解片イオンの質量相関を同時潮定法により調べた。
- 素粒子論グループ 素粒子研究編集部の論文
- 1997-05-20
著者
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