欠測値をもつ半導体工場測定データにおける平均ベクトル間の同等性検定と同時信頼区間

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概要

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• 日本計算機統計学会の論文

著者

• 首藤 信通

  東京理科大学・理・院

• 久住 麻希子

  ホトジェニック株式会社

• 森永 亘

  ホトジェニック株式会社

• 山田 春一

  ホトジェニック株式会社

• 瀬尾 隆

  東京理科大学・理

• 浜本 功司

  東京理科大学大学院理学研究科

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