アナログ回路の故障パラメータ解法の検討(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)
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概要
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携帯電話や無線LANの普及と共に、アナログ回路が混在したLSIが増加し、開発TAT短縮のためにアナログ回路の故障診断技術の確立が重要な課題になっている.前回の発表では、ビア抵抗の増加によるパラメータ故障の診断法として、ビア抵抗を変数とする回路方程式を解き、その解を求めることによる故障診断法の基本的な考え方を示した.今回は故障パラメータの解法として、回路方程式の解の有無の判定法、及び方程式の全ての解を求める方法、を提案する.解の有無の判定法としては、二分法により再帰的に区間を分割しながら解の存在しない領域を除外していく方法を導入する.また全ての解を求める方法としては、最急勾配法と遺伝的アルゴリズムによる関数最小化法を取り上げる.以上の提案手法を評価した結果、解の有無判定法と関数最小化法を併用することで、安定的かつ効率的に解が求められることを確認した.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2007-01-11
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