17-3 CCDイメージセンサにおける転送効率の解析
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概要
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Charge transfer efficiency(CTE) in CCD image sensor is analyzed by a three dimensional device simulator SPECTRA. The limitation of CTE estimation by minimum fringing field and structure dependence of CTE are discussed. It is found that CTE of long and narrow channel CCD strongly depends on decay time constant of transfer pulse.
- 社団法人映像情報メディア学会の論文
- 1993-07-27
著者
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