4-5 CCD駆動ICにおける同期信号分周雑音の定量化

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概要

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• Correlation between Fixed Pattern Noise level and current ununiformity of CCD timing IC has been quantified. Current simulatrion method to examine current ununiformity has been established.

• 1995-07-26

著者

• 田代 信一

  松下電子工業

• 曽根 賢朗

  松下電子工業株式会社第一事業本部

• 武田 勝見

  松下電子工業(株)ピクチャーコンポーネント(事)

• 井原 功

  松下電子工業株式会社

• 曽根 賢朗

  松下電子工業(株)ピクチャーコンポーネント(事)

• 井原 功

  松下電子工業(株)ピクチャーコンポーネント(事)

• 宮下 昌泰

  松下電子工業(株)ピクチャーコンポーネント(事)

• 田代 信一

  松下電子工業(株)ピクチャーコンポーネント(事)

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