C-3-132 光ファイバモジュール診断用の高速高精度光リフレクトメトリ(C-3. 光エレクトロニクス(光記録・計測), エレクトロニクス1)

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概要

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• 2005-09-07

著者

• 保立 和夫

  東京大学工学系研究科電子工学専攻

• 何 祖源

  東京大学工学系研究科

• 柏木 正浩

  東京大学大学院新領域創成科学研究科基盤情報学専攻

• 冨澤 敏彦

  東京大学工学部電子工学科

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