Sol-Gel法により合成した(PbLa)(ZrTi)O_3強誘電体薄膜の光学特性

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概要

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• We studied the optics property of a ferroelectric thin film. Ferroelectric thin films of (PbLa)(ZrTi)O_3 (PLZT) were prepared by chemical solution deposition (CSD) method. The PLZT thin film is multi layer structure and has the extinction and refractive index. We measured the wave length dependence of reflectance spectrum and compared the Sellmeier model and the tauc-Lorenz model to the experimental data. As a result,the maximum value of refractive index of a PLZT thin film is 4.1 (wave length : 280 nm). The Sellmeier model is the simple model and the value obtained from the Sellmeier model is not fitting to measured value in short wave length region, because the Sellmeier model disregards absorbing photon by band gap of PLZT thin film. Therefore, in short wave length region the tauc-Lorenz model is effective.

• 八戸工業大学の論文
• 2006-02-28

著者

• 増田 陽一郎

  大学院工学研究科電気電子工学専攻・教授

• 越前 正洋

  八戸工業大学大学院工学研究科電気電子工学専攻博士前期課程・2年

• 増田 陽一郎

  電子知能システム学科・教授

• 増田 陽一郎

  八戸工業大学電子知能システム学科教授

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