22pWA-7 端点1量子ビットの測定による多量子ビット系の状態推定(量子エレクトロニクス,領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 2005-08-19

著者

• 湯浅 一哉

  早大高等研

• 中里 弘道

  早大理工

• 陽 完治

  北大:crest-jst

• 湯浅 一哉

  早大理工

• 岡野 康介

  早大理工

• 中里 弘道

  早稲田大学理工学術院

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