超音波干渉縞の発生と材料表面形状計測への適用(OS8-3 超音波とマイクロ・ナノ計測,OS8 実験力学の新たな発展)
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概要
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- 社団法人日本機械学会の論文
- 2004-07-20
著者
-
加藤 寛
埼玉大学大学院理工学研究科
-
加藤 寛
埼玉大院
-
加藤 寛
埼大院工
-
蔭山 健介
埼大院工
-
大村 理
埼大
-
加藤 寛
埼大工
-
蔭山 健介
埼大工
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大村 理
埼玉大
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蔭山 健介
埼玉大
-
加藤 寛
埼玉大
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蔭山 健介
埼玉大学理工学研究科
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