THE IMPACT OF IC DESIGN-FOR-TEST ON TIME-TO-MARKET
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概要
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In the changing VLSI test environment, this paper re-examines the VLSI Test development trade-off of quality, cost of Test development and Time-to-Market. The paper looks at what technology has been available in the recent past and is currently available to reduce Time-to-Market in terms of Design-for-Test, the types of Test, and automation possibilities. Finally it briefly looks at future opportunities for the contribution of VLSI Test to the reduction of Time-To-Market for a VLSI chip.
- 日本信頼性学会の論文
- 1997-06-10
日本信頼性学会 | 論文
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