TQD(Total Quality Development), MIT教授ドン・クロージング著, 富士ゼロックスTQD研究会訳, 1996.10.30発行日, 経BP社, 474ページ, \3,800
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 日本信頼性学会の論文
- 1997-01-10
著者
関連論文
- 真空管製造の終焉
- バタフライ物語
- アイントホーフェン そして シッタルト
- Aさん逝く
- 物象的品質改善
- 奇妙なゴムの不信頼性
- 幾何学的故障解析
- プリント基板の腐食(老兵の手記(17))
- ドアホンの腐食(第二話)
- ある故障解析事例の波紋
- 電子部品のPPM不良率とFIT故障率
- 民生用電子産業の信頼性技術(老兵の手記(13))
- 電子計測器の信頼性設計(老兵の手記(12))
- 無限大の寿命分布(老兵の手記(11))
- 過去を忘れた分布(老兵の手記(10))
- 二輪馬車分布(老兵の手記(9))
- 誤発報・不発報モデル(老兵の手記(7))
- 信号機の信頼性挿話(老兵の手記(6))
- ATSの信頼性評価(老兵の手記(5))
- 製品を守る営業マン(老兵の手記(4))
- 事件は同時並行に進行した(老兵の手記(3))
- TQD(Total Quality Development), MIT教授ドン・クロージング著, 富士ゼロックスTQD研究会訳, 1996.10.30発行日, 経BP社, 474ページ, \3,800
- ダグチメソド異聞(老兵の手記(2))
- 老兵は消え去ることもなく
- "第5回デバイス供養会"報告