大容量積層セラミックコンデンサの信頼性試験

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概要

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• チップ積層セラミックコンデンサは, 誘導体セラミツクスの薄層化と多層化技術が進展し, 1μFを越す大容量も取得が可能となって, 市場の需要が増加している.一方, チップ積層セラミックコンデンサは汎用電子部品として, 昨今の電子機器使用環境ストレスの多様化と苛酷化に対応した信頼性の確保が求められている.本報では, 大容量積層セラミックコンデンサの信頼性試験として, 摩耗故障評価試験と初期故障評価試験について紹介する.

• 日本信頼性学会の論文
• 2000-09-25

著者

• 野口 博司

  (株)村田製作所

• 岡田 誠一

  株式会社村田製作所品質管理部

• 岡田 誠一

  (株)村田製作所

• 柴田 将充

  (株)村田製作所

• 岡田 誠一

  村田製作所

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