半導体の合理的・効率的な加速寿命試験の考え方
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概要
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近年, 製品の設計段階での信頼性作り込みを強化し, その加速寿命試験を合理的・効率的に実施する手法の検討がなされている.半導体製品は, バスタブカーブに従ってその故障率が推移していく.加速寿命試験においてその信頼度を予測あるいは検証する時, その試験がバスタブカーブのどの領域の故障を加速評価しているのか, どの抜取り試験方法を使っているのか, 対象とする故障メカニズムは何か, どんな環境で製品が使用されるのか, をよく理解して故障領域毎に分離して加速試験を実施することがメーカーおよびユーザー双方にとって重要かつ有効である.
- 日本信頼性学会の論文
- 2000-03-25