論理解析による故障診断手法の紹介
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概要
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ソフトウェアを用いた論理的故障診断システムを開発した.本システム適用で,故障サンプルを分解する前に,予めテスタ測定結果から故障候補箇所を数ケ所程度に特定することが出来る.それ故,引き続く解析装置による観測や加工の十分な戦略立案が可能となり,全休の解析精度及びTATを向上出来る.本システムは,スキャン設計を用いたテスト,論理シミュレーションパターンによる機能テスト,及びIddqテストヘの対応を可能とした.また信号ノードが電位的に固定した縮退故障だけでなく,微細プロセスで顕在化してきている配線ショート,配線オープン,或いはディレイ等の電位が動的に変化する故障への対応も可能として解析精度を向上した.実際の運用場面では,ソフトウェアによる絞り込み結果だけでは不十分で,結果を回路・レイアウト構成や実際の論理値との照合,或いは解析装置による観測結果との照合を行って,結果を多角的,総合的に解釈することも重要である.本システムではこの作業容易化を目指しリーズニングと呼ぶツールも開発した.システム全体は「小五郎」と名付け,論理LSIの故障解析へ寄与している.
- 2003-03-25