システムLSI製品の信頼性評価方法の検討
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概要
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近年,システム機器の小型化,高機能化に伴い,システムLSIの需要が急速に伸びている.SOC(System on Chip)という言葉が市民権を得て,Si基板上の1chipにできる限りの機能を搭載する.2001IRPS(International Reliability Physics Symposium)のKEYNOTEでも紹介されたように,SOCの開発手法と,それに伴う評価方法がメーカサイドの大きな課題になっている.従来のような一品一葉の開発ではなく,プラットフォーム化したシステムLSI開発と,それに伴うプラットフォーム評価が必要になる.プラットフォーム評価に際し,短時間に洩れなく評価する方法について検討を行ったので紹介することとする.
- 日本信頼性学会の論文
- 2002-01-25