The Effect of Impurity on the Formation of the √<3>×√<3>(R30°) Surface Phase of the Ag-Si(111) System
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概要
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Auger intensity versus coverage plots for a polished (111) Si surface deposited with Ag at 400℃ were measured to determine the stoichiometry of the √<3>×√<3> (R30°) surface phase. The critical coverage of the transition from 2D growth to 3D growth varies with the quantity of carbon existing on the surface. For a clean surface, the critical coverage is 1.0 or slightly less than 1.0, and as the quantity of carbon increases, the cirtical coverage decreases. The growth of Ag on a contaminated surface is discussed using these results.
- 社団法人応用物理学会の論文
- 1981-12-05
著者
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Gotoh Yoshihiko
Centre De Recherche Sur Les Mecanismes De La Croissance Cristalline Cnrs. Campus Universitaire De Lu
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Chauvet Agathe
Centre De Recherche Sur Les Mecanismes De La Croissance Cristalline Cnrs. Campus Universitaire De Lu
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Manneville Michel
Centre De Recherche Sur Les Mecanismes De La Croissance Cristalline Cnrs. Campus Universitaire De Lu
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KERN Raymond
Centre de Recherche sur les Mecanismes de la Croissance Cristalline, CNRS. Campus Universitaire de L
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Kern Raymond
Centre De Recherche Sur Les Mecanismes De La Croissance Cristalline Cnrs. Campus Universitaire De Lu
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KERN Raymond
Centre de Recherche sur les Mecanismes de la Croissance Cristalline, CNRS. Campus Universitaire de Luminy
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MANNEVILLE Michel
Centre de Recherche sur les Mecanismes de la Croissance Cristalline, CNRS. Campus Universitaire de Luminy
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GOTOH Yoshihiko
Centre de Recherche sur les Mecanismes de la Croissance Cristalline, CNRS. Campus Universitaire de Luminy:(Present address) The Reserch Institute for Iron, Steel and Other Metals, Tohoku University