MNOS Retention-Endurance Characteristics Enhancement Using Graded Nitride Dielectric : A-3: LSI-2

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概要

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• 社団法人応用物理学会の論文
• 1983-02-28

著者

• Hsia Yukun

  Fairchild Microprocessor Division

• Mei Eden

  Mcdonnell Douglas Microelectronics Center

• NGAI Kia

  Naval Research Laboratory

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