Characterization and Control of Domain Structure in SrBi_2Ta_2O_9 Thin Films by Scanning Force Microscopy

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概要

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• 社団法人応用物理学会の論文
• 1998-08-01

著者

• Gruverman Alexei

  Research Center Sony Corporation

• IKEDA Yuji

  Research, Center Sony Corporation

• Ikeda Yuji

  Research Center Sony Corporation

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