The Effect of Biaxial Stress on the Solid Phase Epitaxial Crystallization of Ge_xSi_<(1-x)> Films
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概要
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- 社団法人応用物理学会の論文
- 1998-03-15
著者
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Boer Wiebe
Philips Research Laboratories
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CORNI Federico
Istituto Nazionale per la Fisica della Matelia and Dipartimento di Fisica, University of Modena
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FRABBONI Stefano
Istituto Nazionale per la Fisica della Matelia and Dipartimento di Fisica, University of Modena
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TONINI Rita
Istituto Nazionale per la Fisica della Matelia and Dipartimento di Fisica, University of Modena
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LEONE Daniela
CNR-Istituto LAMEL
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GASPAROTTO Andrea
Istituto Nazionale per la Fisica della Materia and Dipartimento di Fisica, University of Padova
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Tonini Rita
Istituto Nazionale Per La Fisica Della Matelia And Dipartimento Di Fisica University Of Modena
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Corni Federico
Istituto Nazionale Per La Fisica Della Matelia And Dipartimento Di Fisica University Of Modena
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Frabboni Stefano
Istituto Nazionale Per La Fisica Della Matelia And Dipartimento Di Fisica University Of Modena
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Gasparotto Andrea
Istituto Nazionale Per La Fisica Della Materia And Dipartimento Di Fisica University Of Padova