Influence of Depth Position of End-of-Range Defects on Current-Voltage and Noise Characteristics of Shallow (p^+/n) Junctions

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概要

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• 社団法人応用物理学会の論文
• 1997-04-15

著者

• Van Haaren

  Cnrs

• ALQUIER Daniel

  LAAS

• BERGAUD Christian

  LAAS

• PLANA Robert

  CNRS

• GRAFFEUIL Jacques

  LAAS

• MARTINEZ Augustin

  CNRS

• Alquier D

  Univ. Tours Tours Fra

• Bergaud C

  Lab. D'analyse Et D'architecture Des Systemes(laas/cnrs) Toulouse Fra

• Martinez Augustin

  Cnrs:limms

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