Direct Determination of Relaxation Parameters in Deep-Level Transient Spectroscopy Experiments

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概要

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• A robust technique for deep-level transient spectroscopy is presented. The method is based on a single temperature scan of capacitance transients. The relaxation parameters, energy trap level, amplitude and pre-exponential factor, can be directly computed from experimental data by means of a set of closed-form expressions. The usefulness of this method is tested by analyzing the deep-level signal on a palladium-doped silicon diode

• 社団法人応用物理学会の論文
• 1996-04-15

著者

• Hernandez Pablo

  Dpto. Electricidad Y Electronica Facultad De Ciencias Universidad De Valladolid

• Enriquez Lourdes

  Dpto. Electricidad Y Electronica Facultad De Ciencias Universidad De Valladolid

• ALEJOS Oscar

  Dpto. Electricidad y Electronica, Facultad de Ciencias, Universidad de Valladolid

• Alejos Oscar

  Dpto. Electricidad Y Electronica Facultad De Ciencias Universidad De Valladolid

• Francisco De

  Dpto. Electricidad Y Electronica Facultad De Ciencias Universidad De Valladolid

• MARIA MUNOZ

  Dpto. Electricidad y Electronica, Facultad de Ciencias, Universidad de Valladolid

• VICENTE Jose

  Dpto. Electricidad y Electronica, Facultad de Ciencias, Universidad de Valladolid

• Maria Munoz

  Dpto. Electricidad Y Electronica Facultad De Ciencias Universidad De Valladolid

• Vicente Jose

  Dpto. Electricidad Y Electronica Facultad De Ciencias Universidad De Valladolid

• Hernandez Pablo

  Dpto. Electricidad y Electronica, Facultad de Ciencias, Universidad de Valladolid

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