A Possible Degradation Mechanism in ZnS : Mn AC-TFELD (Korea-Japan Joint Symposium on Information Display)

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概要

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• 社団法人映像情報メディア学会の論文
• 1990-10-30

著者

• Chung In-jae

  Kaist

• Lee Yun-hi

  Kaist

• Lee Yun-Hi

  Applied Electronics Lab., KIST

• Chung In-Jae

  Applied Electronics Lab., KIST

• Oh Myung-Hwan

  Applied Electronics Lab., KIST

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