6)Annealing Behavior of Bias Induced Degradation in a-Si : H TFTs

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概要

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• 社団法人映像情報メディア学会の論文
• 1991-04-20

著者

• Bae Byung-seong

  Kaist

• Lee Choochon

  Kaist

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• 6)Annealing Behavior of Bias Induced Degradation in a-Si : H TFTs

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